光学仪器环境砂尘试验方法

1、试验目的:研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等专特性受到砂尘尘影响的变化程度，特别是研究运动部件(如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮)的故障或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对相粒砂尘的耐磨性。

2、试验条件

a.暴露期间，光学表面应用各种措施防止砂尘的影响，如防尘罩。若试样在暴露时光学表面不必罩盖，则应在有关标准中加以说明。

b.试验箱(室）应具有一定的空间以保证试样的占有面积不大于试验箱(室)横截面积(与空气流动方向垂直的面积)的50%.体积不超过试验箱(室)有效体积的50% 。

c.矿物砂尘应由边缘锐利的微粒组成，其中SiO2按重量应不少于97%,微粒尺寸分布和分析用的金属丝筛网应符合下表的规定。

d.试样的位置均应与空气流动方向垂直，并且试样之间以及试样与试验箱(室)壁的距离均大于100mm,试样的安置应使最易损表面朝着喷尘。在试验期间试样的位置可重新定位，以便将各个不同的表面暴露于空气流，在有关标准中应颊览对空气流暴露的试样表面的位置和数量，暴露周期应均匀分配给每一暴露面。