用于五金电子产品行业

1、导言

1.1 范围
本部分适用于室温条件下的低气压试验。
本试验的目的是用于确定元件、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性。
注:在高温和低气压综合或低温和低气压综合环境下贮存、运输或使用的产品，这种综合环境对于施加于产品上的应力或失效机理的影响是十分重要的，应按下列标准进行试验:
——GB/T 2423.25 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验
——GB/T 2423. 26电工电子产 品环境试验第 2部分:试验方法试验 Z/BM:高温/低气压综合试验
1.2 规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T2423标准的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本部分。
GB/T 2421电工电 子产品环境试验第 1部分:总则（GB/T 2421- 1999， IEC 60068-1: 1988，IDT）
GB/T 2423. 25电工电子产 品环境试验第 2部分:试验方法试验 Z/AM:低温/低气压综合试验（GB/T 2423. 25一2008 ，1EC 60068-2-40 :1983 ，IDT）
GB/T 2423. 26电工电子产 品环境试验第 2部分:试验方法试验 Z/BM:高温/低气压综合试验（GB/T 2423. 26一2008 ，1EC 60068-2-41 : 1983，IDT）
ISO 2533标准大气
2、一般说明

将试验样品放入高低温低气压试验箱（室），然后将试验箱（室）内气压降低到相关规范规定的值，并保持规定持续时间的试验。
3、试验设备
高低温低气压试验箱（室）应具有能保持本部分第4章所规定的低气压条件的能力

在恢复气压至正常时，应注意避免发生由于辅助设备、装置及导人不清洁的空气而使箱内空气发生污染的情况。
当对散热试验样品进行试验时，相关规范可根据GB/T2423.26的要求对试验箱（室）进行适当的规定。
 4、严酷等级
相关规范应当规定气压和试验持续时间的严酷等级，其值应从4.1和4.2的规定中优先选择。                        

 4.1 气压

在高低温低气压试验箱（室）中应能保持表1中的气压，其容差为±5%或±0.1 kPa（取较大值），在严酷等级为84 kPa时的容差为±2 kPa。
 4.2试验持续时间
相关规范应优先选用下列试验持续时间之一:
——5 min
——30 min；
——2 h；
——4 h；
——16 h。
5、预处理
可根据相关规范的要求进行预处理。
6、初始检测
应按相关规范要求对样品进行视检及电气与机械性能检测。
7、条件试验
7.1高低温低气压试验箱（室）内的温度应在规定的试验标准大气条件温度范围内。
当不要求样品在运行状态下进行试验时，样品应在不包装、不通电、“准备使用”状态，按其正常位置（除非另有规定）放人高低温低气压试验箱（室）内。
7.2 将高低温低气压试验箱（室）内的气压降低到符合规定严酷等级的值，如有需要，相关规范可规定气压变化速度不大于10 kPa/ min。
7.3当要求样品在运行状态下进行试验时，样品应通电或加电气负载，应检查确定试验样品是否能满足相关规范规定的功能。试验样品可按规定的持续时间保持在运行状态，或是按相关规范的要求断开电源。
若相关规范要求中间检测时，则应进行中间检测。
对散热试验样品，相关规范可要求在降低气压以前或以后对试验样品通电足够长的时间，使其达到热稳定，并进行功能试验和（或）检测。
7.4气压应保持规定的持续时间。
7.5 使气压恢复到常压，若相关规范有要求时，气压变化的速度应不超过10 kPa/ min。
8、恢复
若相关规范无其他规定，试验样品应保持在标准大气条件下进行恢复，时间不少于1 h，但也不超过2 h。
9、后检测
应按相关规范的要求，对试验样品进行视检及电气与机械性能检测。
10、相关规范应给的资料
相关规范应用本试验方法时，应尽量给出下列适用的细节:
a）预处理（见第5章）；
b）初始检测（见第6章）；
c）条件试验时试验样品状态（见7.3）；
d）严酷等级:试验气压和持续时间（见第4章）；
e）对采用压 力变化速度的限制（见7.2和/或7.5）；
f）条件试验期间热稳定、检测和（或）负载检查（见7.1或7.3）；
g）恢复（见第 8章）；
h）后检测（见第 9章）。